スキャナシステムは、測定対象上を磁界プローブにて自動走査させ、磁界強度分布（ノイズ）
の可視化を行ないます。
NECエンジニアリング社のスキャナシステムは、PCにてスキャナとスペクトラムアナライザを制御し
ます。ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ、オフィス環境でノイ
ズを把握することができます。
装置、プリント基板、LSI、 部品、モジュール等の様々な対象物の磁界強度分布を計測・表示することができます。
（各種オプション・カスタマイズ対応可）
| 型番 | 4EM500 |
|---|---|
| 測定対象 | 装置、プリント基板、LSI、モジュール、部品等 |
| 測定方式 | 4 軸ステージにより磁界プローブを走査 |
| 測定範囲 | X,Y,Z = 500 × 500 ×210(mm) θ = ±90(deg) |
| 動作ステップ | X,Y,Z = 0.01(mm) θ = 1(deg) |
| 対応可能プローブ | AEKP001、ALMP001、AEMP001、CP-2S、MP-10LA、その他各種対応可能 |
| 外形寸法 | 860mm(W) × 862mm(D) × 840mm(H)(突起部を含まず） |
| 質量 | 約110kg |
| 電源 | AC100V-240V 50⁄60Hz |
| 制御用インタフェース | モーターコントロールボード(USB or PCI-Express）、GPIB－USB |
| 計測器 | スペクトラム・アナライザ |
※NECプラットフォームズ社製
レーザーによる高さ測定機能により、測定対象の高さに応じて非接触でプローブを追従させながらノイズの分布を測定することができます。
計測機能はそのまま、高精度スキャナシステムをA3サイズまで小型化し、省スペース化を実現しました。
| 型番 | 4EM200U |
|---|---|
| 測定対象 | プリント基板、LSI、モジュール、部品等 |
| 測定方式 | 4 軸ステージにより磁界プローブを走査 |
| 測定範囲 | X,Y,Z = 200 × 200 ×100(mm) θ = 0,90(deg)(2 位置) |
| 動作ステップ | X,Y,Z = 0.1(mm) |
| 対応可能プローブ | AEKP001、ALMP001、AEMP001、CP-2S、MP-10LA |
| 外形寸法 | 297mm(W) × 420mm(D) × 500mm(H)(突起部を含まず） |
| 質量 | 約15kg |
| 電源 | AC100V-240V 50⁄60Hz |
| 制御用インタフェース | モーターコントロールカード(USB）、GPIB-USB |
| 計測器 | スペクトラム・アナライザ |
※NECプラットフォームズ社製
| 磁界測定システム 7,958KB |  |
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