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EMC⁄EMI測定サービス

■ 近傍磁界測定(~18GHz) ---  高分解能磁界プローブ使用

AEKP001/AEKP002
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EMC、EMI測定
EMC、EMI測定

EMI 近傍界測定例

100mm×100mm多層基板上のDSPに、5個のバイパスコンデンサ(パスコン)を実装した場合と未実装の場合における、近傍界電磁強度の分布を磁界プローブで測定し、ノイズ量を比較検証します。

測定システム

■使用機器:電磁界測定器(4EM500 NEC社製)
■測定対象: 100mm×100mm多層基板(DSP及びメモリ搭載)
■測定周波数:10MHz~998MHz
■磁界プローブ:MP-10L(相当)
■測定ポイント数:100×100   0.5mmピッチ

磁界プローブ法(MP法)

磁界プローブ法とは、モジュールに供給される電源の高周波電流に磁界プローブを非接触で近傍させ、電流より発生した磁界を検出することでノイズ成分を評価する方法です。磁界プローブ法は、半導体の EMI 評価法として、IEC (国際電気標準会議)により制定された国際規格準拠の測定方法です(IEC61967)。

測定結果

100mm×100mm多層基板
(C13~C17まで5個のパスコンを実装、未実装で比較測定

(1) DSPのポイントで測定 (ピークは29.75MHz)
DSP出力エリアが磁界強度が最大。I⁄Oエリアにも磁界が広がっている。パスコン有無の差はほとんど見られない。
(2)フラッシュメモリのポイントで測定 (ピークは266.76MHz)
実装した場合、メモリエリアにパスコンの効果があるように見えるが、I/Oエリアに磁界が広がってしまっている。
(3) 基板右端のポイントで測定 (ピークは844.46MHz)
ほぼ全域に磁界が広がっている。パスコンの効果は見られない。
電源供給の安定やノイズ抑制を目的に利用されるパスコンですが、上記の通り、10MHz ~ 998MHzの周波数帯においてパスコン挿入の有効性は見られませんでした。効果的なデカップリングには、コンデンサの容量、個数、挿入位置、各種コンデンサの性質などを考慮し、標準化された測定手法で検証することが不可欠です。弊社では、磁界プローブを用いてモジュール単体で測定できる、EMI近傍磁界測定サービスを行っています。EMI対策コストを最小限に抑える最適設計へのアプローチとして、ぜひお役立てください。

協力会社にて対応(認定サイト)

  • 3m、10m 遠方界測定 --- 電波暗室、シールドルーム
  • 10m電波暗室
  • 3m電波暗室
  • 小型電波暗室(ノイズ対策および防衛・航空機器対応)
  • シールドルーム(伝導性EMC試験、サージ試験、電源パルス試験各種対応)
  • その他、VCCI⁄FCC⁄CE⁄MIL⁄JASOなどに対応する試験機器一式

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