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誘電率測定サービス

誘電率測定サービス

信号の遅延・減衰・反射・クロストーク・放射などの信号伝送の品質は材料のもつ電気特性によって大きく左右されます。優れた高周波特性を持つ材料を開発するには、電気材料の特性を正確に把握することが不可欠です。
マイクロ波・ミリ波の知識と経験を有するエーイーティーの誘電率測定は、サンプルの形態・形状に合わせて様々な方法から最適な方法を選択。マルチドメイン電磁界シミュレータ「※CST STUDIO SUITE」を用い、従来の解析手法に比べて高精度な測定を実現します。

※CST STUDIO SUITEはエーイーティーが販売する3次元電磁界解析ソフトウェアです。製品詳細ページへ

主な測定物

■ 高速ディジタル、マイクロ波回路の基板材料
■ 通信用誘電体アンテナ、フィルタ用低損失誘電体、高誘電体
■ 薄膜材料、多層構造材料、新素材
■ 半導体向け絶縁材料
■ 医用電子機器
■ 化学薬品
■ 食品(水分含有率)
■ 生体
■ 粉体
■ 液体

主な測定方法

誘電率測定は高Q値の共振器技術と3次元電磁界解析をベースにしており、材料と形状に応じて下記のラインナップから最適な方法を選択いたします。

方法と周波数材料形状材料特徴
同軸共振器
0.8~18GHz
自在 固体マイクロ波領域で非破壊で測定可能
空洞共振器法
1~50GHz
※10GHz以上は要相談
細長い短冊状
小型円柱
小型角柱
薄膜
固体
液体
粉体
マイクロ波からミリ波領域において高精度に測定可(破壊測定)(JIS C2565 規格準拠)
ストリップライン
共振器法
プレート
薄膜
固体プリント基板材料等を実際の
使用状態にて測定可能
同軸反射法
200MHz~40GHz
自在液体など 広帯域の連続した特性を測定可能
容量法
10MHz~1GHz
プレート固体10MHz~1GHzまでの連続した特性を測定可能
誘電体共振器法
20GHz以下
円柱
ドーナツ型
低損失な高誘電体誘電損失がおよそ0.001以下の低損失材料の測定
(JIS R 1627 準拠)

CST STUDIO SUITEによる高精度解析

これまで、摂動理論に基づく近似計算に頼ってきた誘電率導出プロセスに3次元電磁界解析技術を投入。試料による共振場の歪みまでを高精度に扱うことが可能となり、より高精度な誘電率測定が実現しました。

誘電率測定装置の販売

エーイーティーでは自社開発の誘電率測定装置を販売しております。
弊社の誘電率測定装置は、独自開発の同軸プローブと測定ソフトウェアにより、複雑な誘電率を簡単かつ高精度に測定できる装置です。
試料をプローブの上に置くだけなので、面倒な試料の加工が必要なく、またネットワークアナライザなどの高価な測定機器が不要ですので経済的です。

同軸共振器法 誘電率測定装置
空洞共振器法 誘電率測定装置
誘電体共振器法 誘電率測定装置
詳細は以下のページをご覧ください。

ハードウェア > 誘電率測定システム

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