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AET,Inc

Distortion in RF Power Amplifiers

¥ 12,100
著 者:Joel Vuoleve/Timo Rahkonen
出 版:Artech   /   2003年
ISBN:1-58053-539-9

RF増幅器の設計に従事するエンジニアや設計者にとって歪み(ディストーション)を最小限に抑えることは重要な課題です。

本書は、RF増幅器の歪みについて詳しく述べられた書籍です。全体の歪みを最小限に抑えるために、増幅器とRF回路のマッチングインピーダンスをどのようにチューニングすべきかについてわかりやすく説明されています。また、歪みをシミュレーションできるモデルの構築方法も紹介しています。

この新しい測定方法を学習すれば、歪みの振幅と位相の測定ができるようになり、メモリ効果についても認識できるようになります。本書では、メモリ効果をキャンセルし、アナログプレディストーションなどのリニアライザを使用し、優れたパーフォーマンスを得る方法を説いています。 この方法は様々なタイプのアンプの設計にも応用できます。

120の数式と110以上の図表が満載されたこの実践的な書籍は、線形トランスミッタに最適な増幅器を設計する上できっとお役に立てると思います。半導体モデルに関する新しい見解も提供されておりますので、ぜひ、一冊お手元にどうぞ。

Introduction - Historical Perspective. The Approach. Main Contents of the Book. Outline of the Book.

Some Circuit Theory and Terminology -- Classification of Electrical Systems. Analyzing Linear Systems. Memoryless Spectral Regeneration. Signal Bandwidth Dependent Nonlinear Effects. Analysis of Nonlinear Systems.

Memory Effects in RF Power Amplifiers - Efficiency. Linearization. Electrical Memory Effects. Thermal Memory Effects. Amplitude Domain Effects.

The Volterra Model - Nonlinear Simulation Models. The BJT/HBT Model. Calculating IM3 Responses. MESFET Model and Analysis.

Simulating and Measuring Memory Effects - Simulating Memory Effects. Measuring the Memory Effects. Memory Effects and Linearisation.

Cancellation of Memory Effects - Envelope Filtering. Impedance Optimization. Envelope Injection.

Characterization of the Volterra Model - Calibration. Pulsed S-parameter Measurements. De-embed the Effects of the Package. Calculation of Small-Signal Parameters. Fitting Polynomial Models. Extracted Nonlinearity Coefficient of a MESFET. Extracted Nonlinearity Coefficient of a 30W LDMOS. DC Characterization.

Appendix A: Volterra Analysis in More Detail.

Appendix B: IM3 Equations for Cascaded 2nd-Order Distortion Mechanisms.

Appendix C: The Truncation Error.

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