空洞共振器法 (TMモード)

フィルム、シート状サンプルの測定に最適


フィルム用切断機(オプション)

フィルム、板/ シート状のサンプルを一定の幅に切断した短冊状のサンプルを測定します。 Q 値の高い共振器設計のため、PTFEや高純度セラミックスのような低誘電損失材料の誘電正接tanδを安定して測定できます。

本方式はJIS C2565 に準拠しており、マイクロ波帯の誘電率測定方式として最も広く採用されている実績のある手法の1つです。

特 長

空洞共振器による測定
空洞共振器内に小さなサンプルを挿入することで引き起こされる共振特性(共振周波数、Q値)の変化からサンプルの電気的特性を算出します。
簡単な測定作業
サンプルを共振器の中に挿入するだけで短時間に測定できます。

用 途

以下のようなサンプルの測定に適しています。
  • PCB基板
  • 薄膜フィルム
  • 樹脂
  • ガラスやセラミックス類

仕 様

(暫定値)

測定周波数 1GHz ~10GHz
共振器の周波数ポイント 1つの共振器につき1点
測定範囲 比誘電率:1~30 tanδ:0.1~0.0001
測定精度 比誘電率:±1% tanδ:±5%
サンプル形状 細長い短冊状(幅 3mm、厚み 0.05~1mm、長さ 80mm 以上)
準拠規格 JIS C2565、 ASTM D2520

TMモードの特徴

円筒空洞の回転中心軸に沿って電界が発生しているTM モード(TM010/011) を利用します。
電界が最大となる円筒中心軸に測定サンプルを挿入することで、その誘電率に応じて共振が変化します。

測定サンプルの形状とサイズ

測定サンプルの形状は短冊状です。
短冊状の長手方向の誘電率を測定しています。

フィルム用切断機 (オプション)

0.2mm 以下の厚みのフィルム材料の場合、専用の切断機をご用意しております。

装置の概要について

Q1. 「空洞共振器法誘電率測定装置」とはどのようなものですか?

Q2. オシレータタイプ(ネットワークアナライザ代替回路)と、ネットワークアナライザタイプのシステム構成は、それぞれどのような測定物が測定できますか?

Q3. 「空洞共振器法誘電率測定装置」の測定原理とはどのようなものですか?

Q4. 「空洞共振器法誘電率測定装置」は、従来の測定法とどこが違うのですか?

Q5. 測定治具は何ですか?またどのような測定物が測定できますか?

Q6. 測定の精度はどのくらいですか?

サンプルの測定について

Q1. サンプルの条件はどのようなものですか?

Q2. 測定できる誘電率特性の限界はどの程度ですか?

Q3. サンプルの測定を依頼することはできますか?

装置のオプションについて

Q1. 本装置はどのネットワークアナライザにも対応していますか?